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Micropó de carboneto de silício verde para polimento de wafers

Embora  o micropó de carboneto de silício verde (SiC)  seja um abrasivo comum para moer materiais duros como cerâmicas (por exemplo, AlN, safira),  não é normalmente utilizado para o polimento de wafers , especialmente para wafers semicondutores (Si, GaAs, SiC, etc.)

1. Porque é que o SiC verde não é adequado para o polimento de wafers

  • Danos superficiais :
    O micropó de SiC (mesmo em graus finos como #2000+) é mais duro do que a maioria dos wafers (Mohs 9,2 vs. Si ~7, GaAs ~4,5), causando fissuras e riscos profundos na subsuperfície.

  • Risco de contaminação :
    as partículas de SiC podem incorporar-se em wafers mais moles (por exemplo, silício) ou reagir com superfícies, degradando as propriedades elétricas.

  • Falta de precisão à nanoescala :
    mesmo o SiC submicrométrico não possui a uniformidade necessária para a planarização a nível atómico (Ra < 0,5 nm necessário para nós avançados).

2. Abrasivos preferenciais para polimento de wafers

A. Wafers de silício (Si) e germânio (Ge)

  • Polimento final :

    • Sílica coloidal (SiO₂) : suaviza quimicamente a superfície para acabamentos sem defeitos (Ra ~0,1 nm).

    • Céria (CeO₂) : Utilizada no polimento químico-mecânico (CMP) para elevadas taxas de remoção de material (MRR).

  • Polimento Bruto/Intermédio :

    • Alumina (Al₂O₃) : Menos agressiva que o SiC, utilizada para pré-polimento.

B. Wafers de carboneto de silício (SiC)

  • Micropó de diamante :
    o único abrasivo mais duro que o SiC (Mohs 10), utilizado em suspensões para retificação/lapidação (por exemplo, grãos de 1–10 μm).

  • Diamante + CMP :
    Combina a remoção mecânica (diamante) com a oxidação química (por exemplo, suspensões à base de H₂O₂).

C. Arsenieto de gálio (GaAs) e outras pastilhas III-V

  • Sílica coloidal/céria :
    polimento a baixa pressão para evitar danos nos cristais.

  • Soluções de bromo-metanol :
    ataque químico após polimento mecânico.

3. Quando o SiC verde pode  ser utilizado para wafers

  • Estágios muito iniciais  (por exemplo, modelação de wafers/retificação de arestas):
    SiC grosso (#400–#800) para remoção rápida de material, mas trocado para abrasivos mais macios o mais rapidamente possível.

  • Substratos de safira (Al₂O₃) :
    O SiC pode ser utilizado para a lapidação, mas o polimento final requer diamante ou sílica.

4. Parâmetros-chave para o polimento de wafers

  • Tamanho abrasivo :
    o polimento final utiliza partículas de 10–100 nm (por exemplo, sílica coloidal).

  • pH e química :
    as suspensões de CMP têm um pH controlado (por exemplo, alcalino para o Si, ácido para os metais).

  • Pressão/Velocidade :
    Baixa pressão (<5 psi) para minimizar os danos no subsolo.

5. Alternativas ao SiC para aplicações com custo-benefício

  • Suspensões de alumina (Al₂O₃) :
    mais baratas que o diamante, mas menos agressivas que o SiC.

  • Processos híbridos :
    SiC para desbaste → Alumina para pré-polimento → Sílica/Ceria para polimento final.

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